連進科技股份有限公司成立於2009年5月，公司專業於半導體及觸控面板相關測試設備的銷售與技術服務。為能提供客戶最優質的測試設備，陸續地與國內外專業廠商共同合作開發測試設備外，也代理國內外知名大廠的測試設備提供給客戶使用，同時為能提供客戶最佳的售後服務，除了提供客戶定期培訓課程及即時現場售後服務外，更分享給客戶專業的測試技術經驗，讓連進科技成為客戶最好的合作夥伴。
目前主要產品有:
韓國TECHVALLEY HAWKEYE2000 X-Ray 元件點料機:
韓國三星公司要求TECHVALLEY 專用設備廠商配合開發的 X-ray 設備，在2013 開發出全世界第一台 X-Ray Chip Counter.2023 年升級為 HAWKEYE2000 ，利用 X-Ray 和自行研發的軟體，能快速又準確地計算出料盤中的數量，點料後的數據可設定自動列印新標籤。通過MES 連接可以進行有效的物料管理。可對7~17 吋料盤 Jedec Tray /IC 等物料進行快速準確計數，準確度達到99.99% 。測量1~4 個料盤，每次計數只需 6 秒，節省超多工時。韓國原裝進口品質穩定已在世界多國廠家指定選用之配備。
Microsoft 公司Windows 11 HLK 認證工具:
提供Microsoft公司Window 11 HLK 認證工具，產品包含美國TECHTILE公司的PT3 HLK Tool 及RA Test Tool，和連進公司自行開發的獲得台灣和中國專利的 LT1000 HLK Test Tool。
觸控面板電性測試機:
LT2000是專門為測試Touch Panel使用的電性測試機，LT2000可測試Touch Sensor是否有Open、Short，以及量測:線電阻、絕緣電阻及節點電容是否正常，其中絕緣電阻可量測到1000M ohm，以及節點電容可量測到0.001 pF，同時也可以量測Touch Panel IC正負保護二極體(Positive/Negative Clamping Diode)的導通電壓值、每隻I/O Pin和VDD 的工作電流值、VDD的工作電壓值是否正常。
電子量測儀器:
提供Tektronix 、Keithley、Fluke公司電子量測儀器，產品包含Tektronix公司的示波器、任意波產生器 、計頻器 、數位電錶及射頻功率錶等產品，Keithey公司的數位多功能電錶(DMM)、直流電源供應器及電源量測單元儀器(SMU)，Fluke公司的數位電錶、電流勾錶、電力品質分析儀及熱影像儀。
多功能推拉力測試機:
適用於IC封裝、光通訊器件封裝、LED封裝、CCM器件封裝、COB/COG邦定、SMT元件焊接、材料力學及可靠性研究使用。提供各種推力、拉力的測試模組，測試固定治具，以及各種鈎針(Pull)、推刀(Shear)、夾爪(Tweezer)，以符合各種測試需要。
LED PSS 自動光學檢測設備:
FSD AOI自動光學檢測設備是專為檢測4~6吋LED圖案化藍寶石基板 PSS (Pattern Sapphire Substrate) 晶圓表面是否有缺陷及反射率均勻度是否正常所開發的AOI自動光學檢測設備。
薄膜透光率量測儀器:
提供透光率量測儀器，可以量測手機Cover Lens IR 油墨小孔 及ICON的透光率，也可以量測玻璃光学镜片的透光率、霧度及色差。
手動晶圓探針台:
8吋和12 吋手動晶圓探針台，Chuck採用不銹鋼材質製作，四組真空環(Vacuum ring)，吸附晶圓使用，，探針座放置平台最多可以放置6組探針座，可以搭配日本Mitutoyo或其他廠牌顯微鏡，作為目視檢查晶圓使用。
晶圓圖形AOI光學檢測機:
適用於晶圓Wafer Die、GaN，GaAs及薄膜電路圖形AOI光學檢測，支援Die2Die 檢測，同時支援線寬測量及套刻測量三合一。
無圖形基板AOI光學檢測機:
適用於光罩基板表面Pinhole，顆粒，劃痕缺陷檢測，光閘極及光學器件表面缺陷檢測、Wafer及GaN，GaAs等基片表面缺陷檢測。
光罩AOI光學檢測機:
適用於光罩缺陷檢測、顆粒劃痕檢測、Haze檢測,支援Die2DB和Die2Die 檢測，同時支援線寬測量。
光譜共焦2D/3D輪廓測量儀:
適用於厚膜的鍍膜厚度、PCB盲孔的刻蝕深度、雷射刻蝕表面深度、各種產品3D輪廓的測量，SM-1000同時也可以量測線粗造度。光譜共焦2D/3D輪廓測量儀是利用光譜共焦位移傳感器測量產品的輪廓。
Eos200 FTIR傅立葉轉換紅外光譜磊晶層厚度及元素濃度測量設備:
Eos200 是一台採用紅外光譜經傅立葉轉換技術測量磊晶層厚度的測量設備，適用於測量一代半導體(矽磊晶片)、二代半導體(砷化鎵、磷化銦基材磊晶)、三代半導體(碳化矽、氮化鎵磊晶片)、分子束磊晶(MBE)等的磊晶層厚度，光阻劑厚度及CMP 拋光後的厚度，以及測定半導體制程各種元素濃度。
